株式新聞ダイジェスト

オムロンが反発、半導体の検査で照射するX線の量を可視化する技術開発と報じられる

 制御機器や電子部品などを手がけるオムロンが反発、53円高の3975円を付けた。27日付の日本経済新聞は、同社が半導体の検査で照射されるX線の量を3次元(3D)で可視化する技術を開発したと報じ、材料視された。

 同紙によれば、米エヌビディアの仮想空間を使い、基板上の凹凸なども考慮して照射された量をヒートマップで表示する。量産で求められる最適な照射量がわかりやすくなることで、検査の効率化につなげるという。

 27日の終値は、前日比3円高の3925円。
[ 株式新聞ダイジェスト ] 提供:ウエルスアドバイザー社

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